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簡(jiǎn)要描述:介質(zhì)損耗測(cè)試儀用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對(duì)無機(jī)金屬新材料性能的應(yīng)用研究。介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種金屬氧化物,板材,瓷器(陶器),云母,玻璃,塑料等物質(zhì)的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì)。通過測(cè)定可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素,為提高材料的性能提供依據(jù)。
產(chǎn)品型號(hào): HD-JD1
所屬分類:介電常數(shù)測(cè)試儀
更新時(shí)間:2025-06-20
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
品牌 | 霍爾德?電子 | 產(chǎn)地 | 國(guó)產(chǎn) |
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介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是表征電介質(zhì)材料性能的關(guān)鍵物理參數(shù),對(duì)于金屬氧化物、工程板材、陶瓷材料(包括陶器和瓷器)、云母絕緣材料、特種玻璃以及各類塑料等高分子材料都具有重要意義。通過精確測(cè)定這些參數(shù),可以深入分析材料組成、微觀結(jié)構(gòu)及外界環(huán)境條件對(duì)介電性能的影響機(jī)制,從而為優(yōu)化材料配方、改進(jìn)制備工藝以及開發(fā)高性能電介質(zhì)材料提供重要的理論依據(jù)和實(shí)驗(yàn)基礎(chǔ)。這一研究在電子元器件、電力設(shè)備、通信技術(shù)等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用價(jià)值。
介質(zhì)損耗測(cè)試儀是一種用于精確測(cè)量材料介電性能的專業(yè)儀器,主要應(yīng)用于以下領(lǐng)域:
1.科研機(jī)構(gòu)——用于新型電介質(zhì)材料的性能分析與理論研究,為材料科學(xué)領(lǐng)域的創(chuàng)新提供實(shí)驗(yàn)依據(jù);
2.高等院?!鳛榻虒W(xué)與科研的重要設(shè)備,支撐材料學(xué)、物理學(xué)、電子工程等學(xué)科的實(shí)驗(yàn)研究;
3.工業(yè)企業(yè)——用于無機(jī)非金屬材料(如陶瓷、玻璃、高分子復(fù)合材料等)的質(zhì)量控制與性能優(yōu)化,指導(dǎo)產(chǎn)品開發(fā)與工藝改進(jìn)。
該儀器在電子元器件、絕緣材料、新能源器件等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用價(jià)值,為新型功能材料的研發(fā)與產(chǎn)業(yè)化提供關(guān)鍵測(cè)試手段。
介質(zhì)損耗測(cè)試儀參考標(biāo)準(zhǔn)
u GB/T 1409-2006 測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(zhǎng)存內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法;
u GB/T 1693-2007 硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)定方法;
u ASTM-D150-介電常數(shù)測(cè)試方法;
u GB9622.9-88/SJT 11043-1996 電子玻璃高頻介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的測(cè)試方法。
技術(shù)參數(shù)
1 | 信號(hào)源 | DDS數(shù)字合成 10KHZ-70MHz |
2 | 采樣精度 | 11BIT |
3 | 測(cè)量范圍 | 1-1000自動(dòng)/手動(dòng)量程 |
4 | 分辨率 | 0.1 |
5 | 測(cè)量工作誤差 | <5% |
6 | 電感測(cè)量范圍 | 分辨率0.1nH |
7 | 電感測(cè)量誤差 | <3% |
8 | 調(diào)諧電容 | 主電容30-540pF |
9 | 電容直接測(cè)量范圍 | 1pF~2.5uF |
10 | 調(diào)諧電容誤差 | ±1 pF或<1% 0.1pF |
11 | 諧振點(diǎn)搜索 | 自動(dòng)掃描 |
12 | 合格預(yù)置范圍 | 5-1000聲光提示 |
13 | LCD顯示參數(shù) | F,L,C,Q,Lt,Ct等 |
14 | 介質(zhì)損耗系數(shù)精度 | 萬分之一 |
15 | 介電常數(shù)精度 | 千分之一 |
16 | 材料測(cè)試厚度 | 0.1mm-10mm |
17 | 技術(shù) | 儀器自動(dòng)扣除殘余電感和測(cè)試引線電感。大幅提高測(cè)量精度。大電容值直接測(cè)量顯示。數(shù)顯微測(cè)量裝置,直接讀值。 |